.RU

Программа XVII российского симпозиумА по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел рэм 2011


Научный совет РАН по электронной микроскопии


Учреждение российской академии наук Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН


Учреждение российской академии наук институт кристаллографии им. А.в. Шубникова РАН


ПРОГРАММА

XVII РОССИЙСКОГО симпозиумА

по растровой электронной микроскопии

и аналитическим методам исследования твердых тел


РЭМ - 2011


г. Черноголовка, 30 мая – 3 июня 2011г.


Москва 2011

Организационный комитет:


Н.А. Киселев

М.В. Ковальчук

В.А. Тулин.

В.В. Казьмирук.

В.М. Каневский.

Н.П. Гольцова.

- сопредседатель

- сопредседатель

- сопредседатель

- заместитель председателя

- заместитель председателя

- секретарь


С.А. Дицман.

Л.А. Казьмирук

Н.А. Осипов

В.Л. Раевский.

А.А. Саранин.

А.Л. Толстихина.

Е.Б. Якимов.


^ Программный комитет:


Е.Б. Якимов

С.А. Дицман

Н.П. Гольцова


В.В. Артемов

А.Л. Васильев

Н.А. Киселев

В.И. Попенко

- председатель

- заместитель председателя

- секретарь


Р.В. Гайнутдинов

В.Н. Соколов

А.Л. Толстихина

В.А. Штейн-Марголина

Э.И. Рау


^ На Симпозиуме будут работать секции:


I. Приборы и электронная оптика

II. Растровая электронная микроскопия и анализ локального состава

III. Сканирующая зондовая микроскопия

^ IV. Наноструктуры и нанотехнологии

V. Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике

^ VI. Применение растровой электронной микроскопии в химии и геологии

VII. Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии




31 мая, вторник Утро 10.00 – 14.00


Открытие конференции


Вступительное слово: Киселев Н.А.

Тулин В.А.


Пленарные доклады


А.Л. Васильев, В.В. Роддатис

^ Растровая просвечивающая электронная микроскопия
высокого разрешения наноматериалов 30 мин.


А.А. Саранин, А.В. Зотов, Д.В. Грузнев

Сканирующая туннельная микроскопия
с временным разрешением 30 мин.


Sergei Magonov

^ Studits of materials in different environments
with atomic force microscopy 30 мин.


Перерыв


Н.А. Орликовский, Э.И. Рау

О контрасте изображений в режиме
отраженных электронов в РЭМ 30 мин.


А.Н. Титков, М.С. Дунаевский, П.А. Алексеев

^ АСМ / ЕСМ исследования влияния поверхностных состояний
на проводимость.нитевидных кристаллов GaAs 30 мин.
Е.Б. Якимов
Исследование полупроводниковых структур современной микроэлектроники методами РЭМ 30 мин.

Обед 14.00 – 15.00


Вечер 15.00 – 18.00


Информационные сообщения представителей фирм о новых разработках диагностического и измерительного оборудования

Устные доклады

1 июня, среда Утро 9.30 – 14.00

П.С. Дорожкин, А.А. Щекин, Е.В. Кузнецов, С.В. Тимофеев, В.А. Быков

Сканирующая зондовая микроскопия в комбинации с микроскопией комбинационного рассеяния: применения при изучении современных наноматериалов 20 мин.


А.А. Романец, В.Р. Новак

^ Метод выделения характерных областей, занимаемыми локальными выпуклыми объектами на СЗМ изображениях 20 мин.

Д.В. Лебедев, А.П. Чукланов, Н.И. Нургазизов, Д.А. Бизяев, А.А. Бухараев
Сканирующая зондовая микроскопия наночастиц, полученных отжигом металлических пленок, осажденных в сверхвысоком вакууме на поверхность пиролитического графита 20 мин.


С.О. Абетковская, С.А.Чижик, И.В. Погоцкая, З. Римуза, Д. Яжабек,
М. Михаловски, Я. Линке

^ Определение модуля упругости покрытий наноразмерной
толщины для МЭМС по результатам статической силовой спектроскопии 20 мин.


Перерыв


В.В. Казьмирук, Т.Н. Савицкая

Низковольтная система для 2D мониторинга шаблонов
для импринт-литографии 20 мин.

М.В. Григорьев, Д.В. Иржак, Р.Р. Фахртдинов, Д.В. Рощупкин, О.В. Феклисова, Е.Б. Якимов
^ Реализация метода тока, индуцированного сфокусированным рентгеновским пучком, на лабораторном источнике 20 мин.


John Maddock

EBSD in difficult circumstances 20 мин.


Marziale Milani, C. Savoia, F. Tatti

^ Charged Particle Mirroring in scanning (FIB/SEM) microscopes 20 мин.


В.Я. Шкловер

Новые приборные и методические решения в растровой электронной микроскопии 20 мин.


Обед 14.00 – 15.00

Обед для секции VII 13.00 – 14.00


Вечер 14.00 – 16.00

Т.Е. Суханова, М.Л. Гельфанд

Электронная и атомно-силовая микроскопия в исследовании наносистем для фотодинамической терапии онкологических заболеваний 20 мин.


А.Н. Горшков, Н.М. Грефнер, Я.Ю. Комиссарчик

^ Анализ механизмов транспорта воды и сахаров клетками
MDCK и CACO2 с помощью конфокальной и электронной микроскопии 20 мин.


Л.В. Диденко, Г.А. Автандилов, M. Milani

^ Метод сканирующей электронной микроскопии для оценки биодеструкции материалов медицинского назначения 20 мин.


В.Я. Шкловер, Е.Д. Бедошвили, П.Р. Казанский, Е.В. Лихошвай

3D – реконструкция внутриклеточных структур диатомовой водоросли Synedra acus с использованием системы
^ DUAL BEAM FIB/SEM QUANTA 3D FEG 20 мин.


Вечер 16.00 – 18.00


Информационные сообщения представителей фирм о новых разработках диагностического и измерительного оборудования

2 июня, четверг Утро 9.30 – 14.00

П.С. Вергелес, Н.М. Шмидт, Е.Б. Якимов

Исследование влияния облучения низкоэнергетичными электронами в РЭМ на наведенный ток и катодолюминесценцию
в гетероструктурах на основе ingan/gan 20 мин.
В.Г. Бешенков, А.Г. Знаменский, Д.В. Иржак, В.А. Марченко, В.И. Николайчик, Л.А. Фомин
^ Особенности эпитаксии пленок иридия на Si(100) с буферными слоями YSZ и CeO2/YSZ 20 мин.

А.А. Михуткин, И.А. Каратеев, Е.А. Кудренко, В.В. Роддатис,

А.Л. Васильев

^ Трехмерная реконструкция объектов методом растровой электронно-ионной микроскопии 20 мин.


Ю.Я. Томашпольский, Н.В. Садовская, Н.В. Козлова, Г.А. Григорьева

^ Термостимулированная поверхностная автосегрегация (ТПАС)
в ионных кристаллах: РЭМ, РСМА, ОЭС, КМС, АСМ, ИКС 20 мин.


Перерыв


А.М. Чапланов, С.И. Багаев, Н.М. Чекан, И.Г. Милашевская,

А.Н. Малышко, I. Vavra, Д.В. Жигулин

^ Получение нанотрубок диоксида титана 20 мин.


В.В. Артемов, М.В. Горкунов, С.П. Палто

Изготовление серебряных наноструктур – метаматериалов методом ионной литографии на установке Quanta 200 3D
и Quanta 3D FEG 20 мин.


К.С. Максимов, С.К. Максимов

^ Растровая микроскопия в нанотехнологиях 20 мин.


А.С. Орехов, Ф.Ю. Соломкин, Е.И. Суворова

Исследование структуры легированных кристаллов высшего силицида марганца методами сканирующей электронной микроскопии, микроанализа и дифракции обратно рассеянных электронов 20 мин.

^ Закрытие Симпозиума


Стендовые сообщения

31 мая, вторник Вечер 16.00 – 18.00


Секция II. Растровая электронная микроскопия и анализ локального состава

В.Г. Бешенков, А.П. Дементьев, К.И. Маслаков Анализ угловой зависимости выхода оже-электронов в графите методом главных компонент

^ А.Н. Бузынин, Ю.Н. Бузынин, Б.Н. Звонков, T. Pezeril, G. Vaudel,

P. Ruello, M. Edely, D. Mounier, J-M. Breteau, V. Gusev

Получение и исследование гетероструктур «диэлектрик-металл-полупроводник» для оптоакустических приборов


^ А.Н. Бузынин, В.П. Калинушкин, О.В. Уваров, Э.И. Рау, С.А. Дицман,

Ф.А. Лукьянов, В.И. Золотарев

Исследование характеристик фоточувствительных элементов матриц фотоприемников на основе Si Pt:Si методом наведенного потенциала и просвечивающей электронной микроскопии.
^ П.С. Вергелес, О.В. Феклисова, Е.Б. Якимов Влияние металлических примесей на контраст протяженных дефектов в режиме наведенного тока

^ А.В. Говорков, А.Я. Поляков, Н.Б. Смирнов, S.J. Pearton

Электрические характеристики, спектры глубоких уровней и спектры микрокатодолюминесценции нелегированных объемных кристаллов

n-GaN, полученных методом хлорид-гидридной эпитаксии


^ А.В. Гостев, С.А. Дицман, Н.А. Орликовский, Э.И. Рау, Р.А. Сеннов

Угловые характеристики средней энергии отраженных электронов для массивных и пленочных мишеней


^ А.В. Гостев, С.А. Дицман, Е.Н. Евстафьева, Н.А. Орликовский,

Э.И. Рау, Р.А. Сеннов

Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ


^ К.М. Девяткова, Л.И. Девяткова, В.Б. Тверской

Исследование фторидных моноклинных кристаллов в РЭМ
Л.А. Евсеев, В.Д. Рисованый Исследования структуры и изотопного состава микрообластей облученного карбида бора методами РЭМ и ВИМС В.Г. Еременко ПЭМ исследования особенностей дислокационной структуры Si, пластически деформированного вблизи перехода пластичность-хрупкость В.Г. Еременко, П.С. Вергелес Микропластическая деформация кремния. Особенности дислокационной структуры и электрические свойства


^ П.В. Иванников, А.Р. Чепелюк, А.В. Кузьменков, А.И. Габельченко
Измерение электрических параметров в растровом электронном микроскопе


^ В.В. Казьмирук, Т.Н. Савицкая

Изучение формирования контраста от топологических элементов структур
О.В. Кононенко, С.И. Божко, Е.В. Емелин, А.И. Ильин, В.Т. Волков, Н.А. Баранов Исследование транспортных свойств наностержней оксида цинка в сканирующем зондовом микроскопе Л.С. Коханчик, Т.Р. Волк Влияние примесей в кристаллах ниобата лития на процессы доменообразования при облучении электронами в РЭМ
Л.С. Коханчик, M.Н. Палатников, О.Б. Щербина

Формирование сегнетоэлектрических доменов в стехиометрических кристаллах ниобата лития методом прямого электронно-лучевого облучения
А.В. Кузьменков, П.В. Иванников, А.И. Габельченко Изучение механизмов электрического пробоя диэлектриков диодов в РЭМ

^ А.Г. Масловская, А.В. Сивунов, Т.К. Барабаш

Моделирование индуцированной электронным зондом зарядки сегнетоэлектрических материалов в инжекционном режиме

^ Н.Н. Михеев, М.А. Степович, Е.В. Широкова
Учет матричных эффектов при локальном электронно-зондовом анализе с использованием новой модели распределения по глубине рентгеновского характеристического излучения


Д.Е. Николичев, А.В. Боряков, С.Ю. Зубков, Е.С. Демидов,

В.П. Лесников, В.В. Подольский, С.А. Левчук
Состав и топография тонких пленок сплава Гейслера

^ Л.А. Павлова, С.М. Пещерова, А.И. Непомнящих

Особенности кристаллов солнечного кремния, изучаемых методами растровой электронной микроскопии и электронно-зондового рентгеноспектрального анализа


Ю.В. Петров, А.С. Бондаренко, А.П. Барабан, К.А. Тимофеева

Центры люминесценции, индуцированные

электронным пучком СЭМ в структурах кремний-двуокись кремния


А.Н. Поляков, М. Noltemeyer, T. Hempel, J. Christen, М.А. Степович

Времяпролетные катодолюминесцентные исследования диффузии экситонов в монокристаллическом нитриде галлия


^ Э.И. Рау, А.А. Татаринцев

О взаимосвязи основных параметров зарядки массивных и пленочных диэлектриков при электронном облучении


А.В. Свиридов, П.В. Иванников, А.И. Габельченко

Повышение точности метода трехмерной катодолюминесцентной нанотомографии в растровом электронном микроскопе


^ Е.В. Серегина, А.М. Макаренков, М.А. Степович

Сравнительный анализ применения моделей независимых источников и коллективного движения для нахождения распределения неосновных носителей заряда в однородном полупроводнике


^ А.А. Федотов, М.Н. Сафонова
Использование микроскопического анализа для исследования структуры композиционных материалов


^ О.В. Феклисова, Е.Б. Якимов Исследование методами РЭМ влияния переходных металлов на электрические свойства лент кремния для солнечных элементов


М.В. Чукичев, В.В. Привезенцев, B.В. Колташев, В.Г. Плотниченко Исследование свойств приповерхностного слоя в кремнии, имплантированном цинком, после термических отжигов

31 мая, вторник Вечер 16.00 – 18.00
Секция IV. Наноструктуры и нанотехнологии


В.В. Акимов, И.Н. Герасимов, Н.В. Смагунов, И.Ю. Пархоменко Исследование образования микро- и наноразмерных поверхностных фаз на монокристаллах минералов

^ Е.М. Белавцева, Н.В. Черкун, Н.В. Сергиенко, О.А. Белякова,

Я.В. Зубавичус, Б.Г. Завин

Исследование структуры нанокомпозитов, полученных разложением металлосилоксанов в полимерных матрицах


^ Н.Д. Васильева, М.Ю. Пресняков, А.И. Попов, М.Л. Шупегин

Электронно - микроскопические исследования вхождения металла в пленки кремний - углеродных нанокомпозитов

^ О.В. Войтенко, Е.Б. Модин, И.С. Смирнов, Е.В. Пустовалов,

Б.Н. Грудин, В.С. Плотников, С.С. Грабчиков, Л.Б. Сосновская
STEM исследования структуры аморфных и нанокристаллических сплавов систем CoW-CoNiW и CoP-CoNiP при термическом воздействии

^ А.О. Волхонский, И.В. Блинков, Н.В. Швындина, Е.А. Скрылева

Термическая стабильность мультислойных покрытий с наноразмерными слоями
А.П. Глухов, Е.Б. Модин, О.В. Войтенко, В.С. Плотников, А.С. Заиченко, Н.Б. Кондриков РЭМ исследование микроструктуры наноструктурированного оксида титана


^ В.М. Грабов, Е.В. Демидов, Н.И. Киселева, В.А. Комаров, Е.В. Константинов АСМ исследование мелкоблочных пленок висмута, полученных термическим напылением на нанокластеры висмута


^ Г.Н. Губанова, Г.Б. Мельникова, С.В. Кононова, Т.Е. Суханова, С.А. Чижик Исследование поверхности нанокомпозитов для первапорационных мембран на основе термостойкого полиимда методами АСМ и РЭМ

^ С.А. Гусев, Н.С. Гусев, М.В. Сапожников, Е.В. Скороходов

Формирование и свойства металлических наноструктур
С.А. Гусев, Е.В. Скороходов Диагностика магнитных состояний Cо наноструктур ^ О.В. Кононенко, В.Н. Матвеев, В.Т. Волков, В.И. Левашов, О.О. Капитанова, И.И. Ходос Исследование пленок графена, синтезированного методом однократного напуска ацетилена, в просвечивающем микроскопе высокого разрешения и рамановском микроскопе

^ В.А. Попов, В.А. Зайцев, И.И. Ходос, М.Н. Ковальчук, Д.В. Матвеев

Применение наноалмазов для упрочнения алюминиевой матрицы


О.Р. Тимошенкова, В.Р. Хрустов, А.М. Мурзакаев

Исслледование методами электронной микроскопии влияния предыстории нанопоршков диоксида циркония стабилизированного скандием на спекание керамик


^ В.В. Цыбульский, А.Н. Петлицкий, С.В. Шведов, Л.А. Власукова,

Ф.Ф. Комаров

Новый нанопористый материал на основе аморфного диоксида кремния


1 июня, среда Утро 10.00-13.00


Секция VII. Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии

K.O. Hovnanyan, Ch.A. Sargsyan, N.L. Hovnanyan, K.A. Trchunian, L.H. Navasardyan, S.V. Marutyan

Correlative Imaging Analysis by Electron Microscopy (sem, tem) of Planktonic and Biofilm forms to Bacteria and Yeast


Г.А. Автандилов, Л.В. Диденко, Т.А. Смирнова, Н.В. Шевлягина,

Н.М. Шустрова, M. Milani, F. Tatti, И.Ю. Лебеденко,

Метод сканирующей электронной микроскопии для оценки процесса микробной биодеструкции металлических сплавов и полимерных материалов

^ В.Е. Андреева
Применение методов электронной микроскопии для исследования осадков в винах


В.А. Антипина, Г.Л. Коломейцева, А.С. Рябченко, А.В. Бабоша

Сравнительный анализ семян эпифитных и наземных орхидей из рода Paphiopedilum Pfitz


М.М. Астафьева, Л.В. Зайцева, А.Ю. Розанов, В. Злобин, М.М. Богина

Изучение ископаемых пленок и коккоидных образований в туфах (Мончегорский район Кольского п-ова, возраст 2,3-2,4 млн. лет) методами СЭМ и РСМА


^ А.И. Байбеков, И.М. Байбеков

Сканирующая электронная микроскопия аспиратов, используемых при липофилинге в эстетической хирургии


И.М. Байбеков, Д.Т. Пулатов, А.Х. Бутаев

Сканирующая электронная микроскопия хронических дуоденальных язв


^ О.Д. Бекасова, И.В. Сафенкова, П.И. Мисуркин, А.Л. Русанов,

Н.А. Чеботарева, В.В. Шубин, Б.И. Курганов

Новые свойства квантовых точек сульфида кадмия, включенных в белковую матрицу


^ И.В. Бобров, В.И. Суворов, В.Ю. Линно

Микроскопические исследования изменений пористой структуры древесной матрицы сосны в процессе пиролиза


^ А.Х. Бутаев

Сканирующая электронная микроскопия эритроцитов при миастении и её хирургическом лечении с использованием лазеротерапии


^ О.Н. Вишневская, Д.В. Бурдин, Н.М. Грефнер, А.Н. Горшков

Протамин и холерный токсин изменяют экспрессию белков плотных контактов в эпителиальных клеточных линиях


^ Л.Ф. Волощук

Опыт применения растровой электронной микроскопии для контроля качества биологических препаратов


Б.В. Втюрин, И.А. Чекмарева

Растровая электронная микроскопия мембраны эритроцитов и их конфигурации при ожоговой болезни


^ В.Е. Голованова, М.Ю. Гущин, Т.Г. Бархина, С.А. Польнер

Использование СЭМ при изучении эпителиальных клеток дыхательных путей

А.Н. Горшков, Я.Ю. Комиссарчик

Структурно-функциональный анализ монослоя культурных клеток – модели собирательных трубок почки


^ Е.Н. Горшкова, С.Н. Плескова, Э.Р. Михеева

Атомно-силовая микроскопия для исследования изменений в морфологии нейтрофилов под воздействием вносимых наноразмерных флуорофоров


^ Н.М. Грефнер, Л.В. Громова, А.А. Груздков, Я.Ю. Комиссарчик

Исследование структурных изменений элементов цитоскелета при всасывании гексоз в энтероцитах и клетках Сасо2

^ Е.С. Дрозд, С.А. Чижик Клеточная эластография как метод оценки упругих свойств клеток с помощью атомно-силового микроскопа

А.Л. Дроздов, А.А. Карпенко

Изучение организация спикул стеклянных губок методами растровой микроскопии


^ П.С. Ерохин, О.С. Кузнецов, Н.А. Видяева, Н.П. Коннов

Использование атомно-силовой микроскопии для исследования экстрацеллюлярной матриксной оболочки (ЭМО) возбудителя чумы


^ Е.А. Жегалло, Л.В. Зайцева, В.К. Орлеанский

Биологические контаминации в осадочных горных породах


А.Ф. Ибрагимов, И.М. Байбеков

Сканирующая электронная микроскопия кожных элементов и эритроцитов крови при некоторых дерматозах


П.Е. Каракозов, А.Х. Бутаев, Б.К. Ибадов

Изучение взаимодействие шовного материала и биологических тканей с помощью сканирующей электронной микроскопии


^ П.Е. Каракозов, А.Х. Бутаев, Н.А. Стрижков, Б.К. Ибадов

Ультраструктура шовного материала, используемого в хирургии


Е.В. Киселева

Высокоразрешающая иммуно-гистохимия на нано-структурах ядра и цитоплазмы в сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии

^ О.А. Коновалова, Н.В. Калачева, В.А. Миронов, М.Х. Салахов

Изучение влияния РНКазы Bacillus Intermedius и токсичных доз H2O2 на апоптоз макрофагов методами АСМ и оптической микроскопии


^ Е.А. Кост, Л.В. Диденко, Н.А. Зигангирова

Новые методические возможности в изучении культуры клеток с помощью растрового ионно-электронного микроскопа guanta 200 3d


^ А.Ф. Крахмальный

Применение СЭМ для идентификации видов рода Protoperidinium


М.А. Крахмальный, В.Д. Коновалюк

Микроморфология гименофора Pleurotus eryngii (Dc: Fr.) Quel


^ Т.Х. Кумахова

Ультраскульптура поверхности зрелых плодов некоторых высокогорных представителей подсемейства MALOIDEAE


О.Г. Леонова, Б.П. Караджян, Ю.Л. Иванова, Ю.Ф. Ивлев,

^ В.И. Попенко

Пространственное распределение сайтов репликации и структурная организация хроматина в соматических ядрах инфузорий


Э.Р. Михеева, С.Н, Плескова, Е.Н. Горшкова

Применение атомно-силовой микроскопии для оценки изменения упругости мембран нейтрофильных гранулоцитов под воздействием квантовых точек


^ Я.Р. Мусинова, Е.Ю. Кананыхина, О.М. Лисицына, Е.В. Шеваль

Количественный анализ выраженности действия естественных и искусственных сигналов ядрышковой локализации
С.В. Надеждин, Е.В. Зубарева, Н.А. Павлов Электронно-микроскопическое исследование интеграции костной ткани с титановыми имплантатами имеющими гидроксилапатитовое покрытие

^ В.Н. Погорелова, А.И. Панаит, А.В. Тарасов, Е.В. Корниенко,

А.Г. Погорелов

Измерение ионов Na+ и K+ в двухклеточных эмбрионов мыши при гипотоническом шоке


^ М.А. Погорелова, В.Н. Погорелова

Определение объема клетки в многоклеточной системе посредством лазерной сканирующей микроскопии

Н.Т. Райхлин, Е.А. Смирнова, А.К. Чекини, А.И. Павловская,

И.А Букаева, Н.Л. Волова

Ультраструктурные критерии степени злокачественности и дифференциальной диагностики карциноидов легкого


^ В.А. Раскатов

Применение растровой электронной микроскопии в исследовании тонкой структуры гумусовых кислот почв


С.М. Ризаева, И.М. Байбеков

Сканирующая электронная микроскопия десны и зубов при пародонтите


^ В.В. Рогов, А.Н. Курчатова

Обнаружение микроорганизмов в сегрегационных льдах мерзлых пород методами электронной микроскопии


И.С. Росете, Т.Ф. Рудометкина, Г.Н. Федотов.

Уровни структурной организации гумусовых веществ в почвах
^ И.В. Сафенкова, С.М. Придворова, А.В. Жердев, Б.Б. Дзантиев Детекция углеродных нанотрубок в биоматериале методами электронной и атомно-силовой микроскопии

^ Е.А. Сладкова, М.Ю. Скоркина

Оценка микрорельефа клеточной поверхности методом АСМ при стимуляции β-адренорецепторов


Е.С. Снигиревская, М.И. Мосевицкий, Я.Ю. Комиссарчик

Роль хроматоидных телец и нецентросомных микротрубочек в формировании сперматозоидов крысы


Т.Е. Суханова, М.Л. Гельфонд

Электронная и атомно-силовая микроскопия в исследовании наносистем для фотодинамической терапии онкологических заболеваний


^ Ф.Ф. Хашимов, И.М. Байбеков

Сканирующая электронная микроскопия постугревых рубцов


З.Н. Цымбалюк, Е.Н. Перегрим

Особенности скульптуры пыльцевых зерен рода Pedicularis L


И.А. Чекмарева, А.А. Волков, С.В. Добыш, Б.В. Втюрин,

^ А.С. Тертычный, Е.В. Кочергина, О.А. Захарова

Создание и растровая электронная микроскопия перевязочного средства с наноструктурным покрытием на основе серебра

Н.В. Шевлягина, Г.А. Автандилов, Э.Р. Толордава, И.Г. Тиганова,

Т.А Смирнова, Р.Р. Азизбекян, Ю.М. Романова,

Энерго-дисперсионный анализ нативных биологических объектов


^ В.Я. Шкловер, Е.Д. Бедошвили, П.Р. Казанский, Е.В. Лихошвай

3D-реконструкция внутриклеточных структур диатомовой
водоросли Synedra acus с использованием системы DUAL BEAM FIB/SEM Quanta 3D FEG


^ В.Я. Шкловер, Н.В. Швындина, Т.А. Алехова, Н.А. Загустина,

Т.Ю. Новожилова, А.Д. Плотников

Контроль РЭМ в разработке иммитационной модели биокоррозионного процесса в конструкционных алюминий-магниевых сплавах


^ Ю.Г. Яновский, Х.Х. Валиев, Ю.Н. Карнет, Г.Н. Ковалев,

К.П. Косичкина, Н.С. Снегирева, О.Б. Юмашев

Сочетание данных атомной силовой микроскопии с результатами обработки РЭМ - микрофотографий бактерий


1 июня, среда Вечер 16.00 – 18.00


Секция III. Сканирующая зондовая микроскопия

Л.В. Баран
Атомно-силовая микроскопия композитных пленок фуллерен- металл

^ М.А. Бондаренко, С.А. Шелестовская, А.В. Котляр,

Ю.Ю. Бондаренко, П.В. Петлеваный, П.И. Куриленко
Исследование кремниевых зондов атомно-силовых микроскопов, восстановленных комбинированым термовакуумным методом

С.В. Валуева, М.Э. Вылегжанина, Л.Н. Боровикова, Т.Е. Суханова

Морфология селеносодержащих наноструктур на основе полимеров различной природы


^ Р.В. Гайнутдинов, O.A. Лысова, A.Л. Толстихина, С.Г. Юдин,

В.М. Фридкин, Stephen Ducharme

Исследование кинетики переключения сегнетоэлектрических нанокристаллов и пленок ПВДФ методом атомно-силовой микроскопии


^ А.Н. Дубовой, В.А. Кулаков, С.А. Носов, Е.М. Гаврищук,

О.В. Тимофеев

Использование атомно-силовой микроскопии при оценке характеристик поверхности оптических элементов полученных на основе наноструктурированной керамики из халькогенидов цинка

И.Г. Ефимова, М.А. Зиганшин, В.В. Горбачук, А.П. Чукланов,

С.А. Зиганшина, А.А. Бухараев

Изменение морфологии поверхности тонких пленок олигопептидов в результате воздействия паров органических соединений
^ О.М. Жигалина, Р.В. Гайнутдинов, А.Н. Кускова , Д.Н. Хмеленин, В.М. Мухортов Доменная структура пленок титаната бария-стронция на подложках MgO А.В. Кириллов, А.П. Глухов, Е.В. Пустовалов, В.С. Плотников, А.С. Заиченко, Н.Б. Кондриков Исследование структуры пористого TiO2 методами атомно-силовой микроскопии и растровой электронной микроскопии

^ Д.А. Киселев, И.К. Бдикин, Ю.М. Высочанский, А.Л. Холкин Исследование доменной структуры монокристалла Sn2P2S6 методом атомно-силовой микроскопии

С. В. Краевский, Ю.В. Половинкина, С. В. Рогожкин, А.Г. Залужный
Изучение изменений морфологии поверхности кремния (100) после облучения протонами с энергией 21 мэв с помощью атомно-силовой микроскопии
^ Н.А. Кранина, В.И. Васильева, А.В. Флегель, М.Д. Малыхин, Л.Г. Сабинина Применение атомно–силовой микроскопии для определения фактора шероховатости поверхности ионообменных мембран Н.О. Кривулин, Д.А. Павлов, Е.В. Коротков, П.А. Шиляев Исследование начальных стадий молекулярно-лучевой эпитакси кремния на сапфире методом атомно-силовой микроскопии Е.П. Криничная, О.П. Иванова, А.С. Голубь, Н.Д. Лененко, Т.С. Журавлева Исследование структуры поверхности пленок нанокристаллического дисульфида молибдена, интеркалированного родамином 6Ж


Е.П. Криничная, О.П. Иванова, С.А. Завьялов, Е.И. Григорьев, Т.С. Журавлева Синтез и исследование структуры поверхности тонкопленочных полимерных нанокомпозитов ППК+Sn

^ Р.В. Лапшин

Распределённая калибровка сканера зондового микроскопа в нанометровом диапазоне
А.И. Машин, А.В. Нежданов, Д.А. Антонов, Д.О. Филатов, А.В. Ершов, В.Г. Шенгуров Влияние условий получения на свойства самоформирующихся кремниевых наноструктур на поверхности ВОПГ и сапфира различной ориентации Г.Б. Мельникова, Г.К. Жавнерко, С.А. Чижик Исследование свойств поверхности модифицированных микрофильтрационных мембран

^ В.Л. Миронов, О.Л. Ермолаева, Е.В. Скороходов

Воздействие поля зонда магнитно-силового микроскопа на массив взаимодействующих ферромагнитных наночастиц


^ Г.И. Овчинникова, Ю.А. Пирогов, Н.В. Белугина, Р.В. Гайнутдинов,

А.Л. Толстихина

Роль АСМ-исследований в формировании концепции микроволнового воздействия на сегнетоактивные среды


^ Е.А. Петрова, М.В. Воробьева, В.В. Иванов, Е.Е. Едренникова

Исследование нанопорошка триоксида вольфрама, полученного методом управляемого окисления низшего оксида вольфрама


^ Л.В. Симагина, Р.В. Гайнутдинов, О.А. Лысова, Т.Р. Волк,

А.Л. Толстихина, Л.И. Ивлева

Изучение сегнетоэлектрического переключения в кристаллах

SrxBa1-xNb2O6 на наноскопическом уровне


^ Е.А. Степанцов

Исследование методом атомно-силовой микроскопии наномоста бикристаллического джозефсоновского перехода на основе пленки YBa2Cu3O7


А.Л. Толстихина, Н.В. Белугина, Р.В. Гайнутдинов, Е.С. Иванова,

В.В. Долбинина

АСМ-исследование сегнетоэлектрических кристаллов TGS с примесями внедрения и замещения


^ Т.В. Шаров, Ю.В. Петров

Изготовление зондов СЗМ электрохимическим травлением вольфрама и методы контроля параметров зонда

1 июня, среда Вечер 16.00 – 18.00


Секция VI. Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в химии и геологии


И.Б. Баньковская, М.В. Сазонова, Л.П. Ефименко, К.Э. Пугачев,

^ Д.В. Коловертнов, В.Г. Барышников

Влияние фуллеренов на рост кристаллов в газонепроницаемых стеклокерамических покрытиях (по данным атомно-силовой микроскопии)


^ П.В. Иванников, О.В. Кононов, Линь Фан, Е.С. Ананьева

ЦКЛ РЭМ свидетельства диффузионного механизма графитизации алмаза
А.В. Кнотько, А.А. Меледин, А.В. Гаршев, В.И. Путляев, Ю.Д. Третьяков Влияние окислительной термообработки на поведение базальтового стекловолокна в портландцементной матрице

^ Н.С. Коновалова, В.С. Комарова

Исследование включений благородных металлов в высокоуглеродистых породах методом РЭМ-РСМА
В.М. Корнилов, А.Н. Лачинов, А.М. Ярыжнов Электронные свойства наноразмерных структур, созданных зондовой технологией Н.А. Кранина, В.И. Васильева, Е.А. Сирота, М.Д. Малыхин, Ю.В. Недосекин Расчет доли активной поверхности гетерогенных ионообменных мембран на основе данных сканирующей электронной микроскопии

^ Л.А. Павлова, Р.Г. Кравцова, А.C. Макшаков

Изучение состава и форм нахождения элементов-индикаторов оруденения в бриолитохимических потоках рассеяния методами РЭМ и РСМА


^ Н.В. Садовская, Е.В. Козлова, Ю.Я. Томашпольский, С.А. Хатипов

Применение растровой электронной микроскопии высокого разрешения для исследования морфологии радиационных модификаций композитных материалов на основе политетрафторэтилена


^ П.П. Сафронов, Н.В. Моисеенко, В.Г. Моисеенко

Наноразмерное самородное золото в минералах месторождения Пионер (Приамурье) по данным электронномикроскопических исследований


^ П.П. Сафронов, Э.Л. Школьник

Новые данные о составе благороднометальной минерализации месторождений типа Карлин (Невада, США) по результатам электронномикроскопических исследований


^ С.Ф. Служеникин, Л.А. Самошникова, А.В. Мохов

Электронно-микроскопическое изучение сульфидной и благороднометальной минерализации в рудах Кингашского рудного узла (Восточные Саяны)


^ В.Н. Соколов, М.С. Чернов

Исследование влияния минеральных наночастиц на прочность моренных глинистых грунтов


В.Н. Соколов, М.С. Чернов, О.В. Разгулина, Д.И. Юрковец

Особенности формирования минеральных наноструктур в глинистых породах


М.П. Соколова, T.E. Суханова, А.А. Кутин, Г.Н. Губанова,

А.В. Теньковцев

РЭМ исследование морфологии псевдополиротаксанов на основе

α-циклодекстрина и гребнеобразного полимера


Г.В. Харитонова, Н.С. Коновалова, Н.П. Чижикова , А.С. Манучаров

Микроструктура глинистых минералов и ее изменение под влиянием растворимых солей
^ И.В. Чаплыгин, Н.Н. Мозгова Разнообразие Pb-Bi сульфосолей в фумаролах вулкана Кудрявый (о. Итуруп, Курильские о-ва) С.С. Шевчук Анализ РЭМ изображений поверхности самородного золота М.А. Юдовская, В.В. Дистлер, А.В. Мохов Происхождение эмульсионных структур в природных срастаниях сплавов и сульфидов платины в платиновых рудах комплекса Бушвельд


2 июня, четверг День 13.00 – 15.00


Секция I. Приборы и электронная оптика


John-Francois Thiot
Modernising previous generations of EPMA with PC based automation and up to date EDS and imaging


^ Р.Л. Волков, Н.И. Боргардт, В.Н. Кукин Применение системы с фокусированным ионным пучком для выявления полостей в пироуглеродных материалах

^ С.А. Дарзнек, В.П. Гавриленко, А.Ю. Кузин, В.Б. Митюхляев,

П.А. Тодуа, М.Н. Филиппов, В.А. Шаронов

О стабильности параметров эталонных мер нанометрового диапазона при контаминации в РЭМ


^ Ж.Е. Желкобаев, В.В. Календин, А, Ю. Кузин, М.Д. Малинкович,

П.А. Тодуа, И.П. Шаповалов, Ю.В. Чихалов

Калибровка сканирующих зондовых микроскопов с использованием меры наноперемещений на основе монокристаллов LiNbO3


^ Е.Н. Жихарев, В.А. Кальнов, Ю.А. Новиков, А.А. Орликовский

Работа электронного литографа в режиме растрового электронного микроскопа


М.А. Запорожец, Е.Г. Небукина, А.В. Егоров, К.А. Дембо, С.В. Савилов, В.И. Николайчик, И.И. Ходос, С.П. Губин, А.С. Авилов

Получение и характеризация наночастиц ZnO для излучательных стандартов

^ В.А. Злобин
Пути повышения разрешающей способности и производительности электронно-зондовых систем для литографии и тестирования наноструктур


^ В.В. Казьмирук

Ситема сбора данных электронного изображения для 2D мониторинга шаблонов для импринт-литографии


В.В. Казьмирук, Т.Н. Савицкая

Оптимизация методов управления формирующей линзой при низковольтных режимах

^ М.А. Князев, А.А. Синцов, С.И. Зайцев Влияние отжига резиста между экспонированием и проявлением на результат электронной литографии

^ Ю.А. Новиков

Влияние наклона тест-объекта на калибровку РЭМ


Ю.А. Новиков

Корреляционные измерения при калибровке РЭМ


Ю.А. Новиков

Изображение в РЭМ тест-объекта с трапециевидным профилем элементов и большими углами наклона боковых стенок в обратно рассеянных электронах


^ Ю.А. Новиков, Ю.В. Озерин

Калибровка РЭМ по двум координатам


Ю.А. Новиков, М.Н. Филиппов

Определение линейности сканирования в РЭМ


^ Ю.А. Новиков, М.Н. Филиппов

Определение плотности распределения электронов в зонде низковольтного РЭМ


О.Д. Потапкин

Проектирование установок нано- литографии с гауссовым распределением плотности тока в зонде


^ О.Д. Потапкин

“Эквивалентный цилиндр” и реальная электронная пушка


О.Д. Потапкин, А.А. Мельников

Анализ коэффициента сбора РЭМ


^ А.Н. Пустовит, А.Ф. Вяткин

Прецизионное профилирование по глубине структур наноэлектроники с использованием вторичных молекулярных ионов в методе ВИМС
^ Е.Б. Якимов Моделирование контраста двумерных дефектов в методе тока, индуцированного сфокусированным рентгеновским пучком


2 июня, четверг День 13.00 – 15.00


Секция V. Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике


М.Ш. Акчурин, Р.В. Гайнутдинов, А.А. Каминский, И.И. Купенко,

В.Б. Митюхляев, А.В. Таранов, Е.Н. Хазанов

Новая оксидная керамика {YGd2}[Sc2](Al2Ga)O12 с частично разупорядоченной гранатовой структурой


^ М.И. Алымов, Н.В. Бакунова, С.М. Баринов, И.А. Белуник,

А.С. Фомин, В.М. Иевлев, С.А. Солдатенко, Ю.А. Пономарев

Субструктура и морфология керамики, изготовленной из нанопрошка гидроксиапатита

^ Н.М. Антонова
Применение методов электронной микроскопии для исследования композиционных покрытий с порошком алюминия, дисперсно-упрочненных частицами циркония


^ И.Б. Баньковская, Д.В. Коловертнов, Л.П. Ефименко

Фазовый состав и морфология поверхности материалов на основе композиции ZrB2 – Si3N4


^ Е.К. Белоногов, А.А. Максименко, А.И. Донцов, С.Б. Кущев

Структурообразование селективного слоя Pd-Cu композитной мембраны на пористой подложке
^ В.Г. Бешенков, А.Г. Знаменский, В.А. Марченко Исследование причины отслоения сегнетоэлектрических пленок PZT с базовым электродом на основе иридия от подложки методом электронной оже-спектроскопии

^ Г.С. Бурханов, В.М. Кириллова, В.В. Сдобырев, В.А. Дементьев

Изучение примесных включений в вольфрамовых порошках методом растровой электронной микроскопии

^ А.А. Владимиров, Д.В. Дягилев, Ф.В. Титов, К.А. Бодак Применение атомно-силовой микроскопии в исследовании наноразмерных частиц

^ А.О. Волхонский, В.И. Блинков

Аттестационные исследования структуры и состава нано ARC PVD покрытий Ti-Cr-Al-N методами электронной микроскопии и спектроскопии


^ А.О. Волхонский, В.И. Блинков, В.И. Делян

Исследование химической неоднородности в многокомпонентных наноструктурных нитридных покрытиях ti-Al-Cr-Zr-nb-Si-N методами микрорентгеноспектрального анализа и растровой электронной микроскопии


^ А.О. Волхонский, И.В. Блинков, Е.А. Скрылева, Н.В. Швындина

Электронная микроскопия и спектроскопические методы исследования для анализа мультислойных наноструктурных покрытий


^ А.В. Галахов, Н.А. Аладьев, А.Г. Колмаков, К.А. Солнцев

РЭМ-исследования аэрозольных керамических порошков с фрактальной структурой


И.В. Гасенкова, Г.К. Жавнерко, Н.И. Мазуренко, Е.В. Остапенко

Исследование морфологии поверхности Al2O3, отожженного при высоких температурах


^ И.В. Гасенкова, Н.И. Мазуренко, Е.В. Остапенко

Морфологические особенности Аl2О3, полученного в комбинированном режиме


В.В. Гребенев, И.П. Макарова, Т.С. Черная, А.Л. Васильев,

В.А. Коморников, В.В. Долбинина

Супепротонная проводимость и процессы твердофазного распада в кристаллах семейства MemHn(АO4)(m+n)/2хH2O
^ А.Н. Жигач, И.О. Лейпунский, М.Л. Кусков, Е.С. Зотова, Н.Г. Березкина, Б.В. Кудров, И.В. Воронин, С.А. Горбатов, О.М. Жигалина, В.В. Артемов Исследования методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопией наночастиц серебра с функциональными покрытиями

М.А. Запорожец, А.Л. Васильев, В.М. Шулаев

Микроструктура сверхтвердых покрытий на основе нитрида титана

С.Ю. Зубков, О.Н. Горшков, М.Е. Шенина, А.Ю. Дудин, А.П. Касаткин
Исследование свойств и состава диоксида циркония, облученного ионами золота П.И. Игнатенко, Н.П. Иваницын, Д.Н. Терпий, Н.А. Кляхина
Формирование наноструктуры и морфологии пленок, полученных методами физического осаждения

^ Т.С. Карпова, В.Г. Васильев, Е.В. Владимирова, А.П. Носов Использование растровой электронной микроскопии для определения размеров NiFe2O4


^ В.М. Кийко, А.А. Колчин, С.Т. Милейко, Н.И. Новохатская, А.В. Пауков, А.Н. Толстун Получение, структура и свойства композитов с керамическими матрицами и углеродными нанотрубками


^ В.М. Кийко, А.А. Колчин, А.Н. Некрасов, Н.И. Новохатская, А.Н. Толстун Структура и прочность эвтектических волокон, полученных на основе оксидов лантанa и лантаноидов.


^ В.П. Коржов, М.И. Карпов, В.И. Внуков, Д.В. Прохоров Исследование структуры многослойной ленты из сверхпроводящего соединения Nb3Sn, полученного по «бронзовой технологии» Е.В. Коротков, Д.А. Павлов, П.А. Шиляев, Н.О. Кривулин, А.И. Бобров Исследование поперечного среза ультратонких эпитаксиальных слоёв кремния на сапфире методами просвечивающей электронной микроскопии

^ Л.И. Кравец, Н.Е. Лизунов, О.Л. Орелович

Использование метода электронной микроскопии для изучения структуры полимерных композитных мембран


^ А.В. Крохалев, В.И. Лысак, С.В. Кузьмин, В.О. Харламов В.Я. Шкловер, Н.В. Швындина, П.Р. Казанский

Электронно-микроскопическое исследование твердых сплавов системы Cr3C2 –Ti, полученных с использованием взрывного нагружения
^ С.В. Кузьмин Результаты исследований облученного ядерного топлива с инертными матрицами методами РЭМ и микроанализа

В.И. Кулинич, Е.И. Бубликов, С.И. Булавко

Применение методов РЭМ для исследования поверхности никелевых контактов микроэлектроники


^ И.И. Курбаткин, Т.М. Муравьева

Структурные исследования поверхности подшипников скольжения из углепластиковых композиций

С.Б. Кущев, А.Н. Малышко, А.М. Чапланов, Е.Н. Щербакова
Исследование элементного и фазового состава тонкопленочных систем на основе железа и кремния при ИФО


^ В.В. Лозенко, К. Бенте, В.Ф. Гременок, В.А. Пилипенко, С.В. Шведов, В.В. Цыбульский, В.А. Ухов

Формирование Sn1-xPbxS пленок методом «горячей стенки»
^ Е.Б. Модин, О.В. Войтенко, Е.В. Пустовалов, В.С. Плотников, С.В. Полищук, Б.Н. Грудин, С.С.Грабчиков, Н.И.Мухуров Исследование структуры и состава магнитных нанопроволок

^ Т.И. Муравьева, И.И. Курбаткин

Исследование морфологии поверхности контакта подшипников скольжения из бронзофторопластового композита методом РЭМ и СЗМ
^ А.М. Мурзакаев, О.Р. Тимошенкова, Х.З. Брайнина, Е.В. Викулова, Л.А. Пьянкова, Т.Ю. Добрынина Исследование зависимости характеристик электрода от размера и расположения наночастиц на его поверхности А.М. Мурзакаев, О.Р. Тимошенкова, И.В. Бекетов, А.М. Медведев Применение электронной микроскопии для исследования образования оксида при получении ультрадисперсного порошка железа

^ В.В. Никитин

Изучение методом электронной оже-спектроскопии кинетических закономерностей электронно-стимулированной десорбции в аморфном диоксиде кремния

^ В.И. Николайчик, Л.А. Клинкова, Н.В. Барковский
Катионная нестехиометрия оксидов систем Ba-Cu-O И Y-Ba-Cu-O

В.И. Николайчик, Б.П. Соболев, М.А. Запорожец, А.С. Авилов
влияние электронного облучения на фториды щелочноземельных элементов (CaF2, SrF2 и BaF2)

^ А.А. Никулина, А.И. Смирнов
Влияние деформации на структуру и свойства высокомарганцовистых сталей

А.А. Новакова, А.Н. Антонов, И.И. Пузик, В.В. Левина

Влияние концентрации ПАВ на размеры и морфологию синтезированных наночастиц гидроксида железа


^ И.Р. Нуриев, А.М. Назаров, Н.В. Фараджев, С.С. Фарзалиев,

A.K. Шарифова

Морфология поверхности и фоточувствительные p-n переходы на основе эпитаксиальных пленок Pb1-xSnxSe


^ О.Л. Орелович, П.Ю. Апель, И.В. Блонская, Н.В. Левкович

Исследование геометрических характеристик асимметричных нанопор, проявляющих диодоподобные свойства в растворах электролитов


^ В.А. Попов, В.А. Зайцев, И.И. Ходос, М.Н. Ковальчук, Д.В. Матвеев Исследование металломатричных композитов с высоким содержанием наноалмазных упрочняющих частиц методами сканирующей электронной микроскопии


^ Д.М. Седловец, М.В. Рыжова, Е.Е. Якимов, М.А. Князев, А.Н. Редькин

Исследование продуктов газофазного синтеза одномерных наноструктур методами электронной микроскопии

^ В.Е. Скурат, И.О. Лейпунский, А.Н. Жигач, Н.Г. Березкина,

П.А. Пшеченков, В. Наумкин, И.О. Волков, В.А. Борисов, С.Ф. Наумов,

С.П. Соколова, А.И. Куриленок, В.В. Артемов

изучение неразрушающими методами загрязнений наружных поверхностей международной космической станции (МКС)
^ И.С. Смирнов, Е.В. Пустовалов, А.В. Колесников, В.С. Плотников, М.С. Васильева Электронно-микроскопическое исследование структуры оксидных пленок на Ti, сформированных методом плазменно-электролитического оксидирования

^ Л.В. Соколов, Н.М. Парфенов, Н.А. Агафонова

Исследование технологических ограничений фотолитографии на рельефной поверхности КНИ пластины при формировании 3D микромехнической струкутуры интегрального тензопреобразователя


^ В.С. Терентьева, И.О. Лейпунский, А.И. Еремина, П.А. Пшеченков,

А.Н. Астапов, Е.С. Зотова

Исследование структурно-морфологических особенностей силицированных УУКМ

^ О.Р. Тимошенкова, И.В. Бекетов, А.В. Багазеев, А.М. Медведев
Исследование морфологии частиц порошков ZnO И ZnO, допированного медью, полученных методом электрического взрыва проволоки О.Р. Тимошенкова, А.П. Сафронов, Е.Г. Калинина, А.М. Мурзакаев Исследование возможности получения композитного покрытия методом электрофоретического осаждения

^ Ю.Я. Томашпольский, Л.Ф. Рыбакова, Н.В. Садовская

Пленки феррита висмута, полученные методом аэрозольного распыления: характеризация структуры и состава


^ В.В. Цыбульский, А.Н. Петлицкий, К.И. Холостов, Е.Б. Чубенко,

А.Л. Долгий, А.В. Бондаренко

Исследование нанокомпозитных структур на основе пористого кремния методом сканирующей электронной микроскопии


В.М. Шулаев

Дефекты роста в сверхтвердых нитридных покрытиях, получаемых вакуумно-дуговым методом из нефильтрованной плазмы титана


В.М. Шулаев

Исследование эволюции микрорельефа металлических поверхностей, подвергнутых ионно-плазменной обработке




organizacionno-ekonomicheskoe-obosnovanie-shemi-energosnabzheniya-potrebitelya.html
organizacionno-metodicheskie-metodicheskie-rekomendacii-po-rabote-s-uchashimisya-otnesyonnimi-k-specialnoj-medicinskoj.html
organizacionno-pravovaya-rabota-s-kadrami-v-sisteme-mvd-chast-3.html
organizacionno-pravovie-formi-strahovaniya.html
organizacionno-pravovie-osnovi-promishlennoj-bezopasnosti-na-predpriyatii.html
organizacionno-pravovoe-obespechenie-bezhenstva-v-godi-pervoj-mirovoj-vojni.html
  • predmet.bystrickaya.ru/sistema-podhodov-i-reshenij-himii-programmi-bakalavriata-trebovaniya-k-rezultatam-osvoeniya-osnovnoj-obrazovatelnoj.html
  • znanie.bystrickaya.ru/44-vibor-celevogo-rinka-marketing.html
  • tests.bystrickaya.ru/konspekt-integrirovannogo-uroka-avstraliya-strana-gde-vsyo-naoborot.html
  • universitet.bystrickaya.ru/tema-5-analiz-variantov-i-obosnovanie-proektov-k-a-fisun-modeli-i-metodi-prinyatiya.html
  • knowledge.bystrickaya.ru/miogennij-fenotip-i-rfd-sankt-peterburgskogo-gosudarstvennogo-medicinskogo-universiteta-imeni-akademika-i-p.html
  • obrazovanie.bystrickaya.ru/pravo-na-dostatochnoe-zhilishe-pakta-ob-ekonomicheskih-socialnih-i-kulturnih-pravah-moskva-oktyabr-2003.html
  • credit.bystrickaya.ru/podrostok-i-tolerantnost-metodicheskie-rekomendacii-po-provedeniyu-pervogo-uroka-2008-2009-uchebnogo-goda-po-teme.html
  • abstract.bystrickaya.ru/13-imya-sushestvitelnoe-kategorialnoe-znachenie-morfologicheskie-priznaki-i-sintaksicheskie-svojstva.html
  • kontrolnaya.bystrickaya.ru/rabochaya-programma-dlya-studentov-ochnoj-zaochnoj-formi-obucheniya-ochnoj-zaochnoj-stranica-2.html
  • lektsiya.bystrickaya.ru/programma-elektivnogo-kursa-po-himii-dlya-klassov-himiko-biologicheskogo-fiziko-himicheskogo-biologo-geograficheskogo-agrotehnologicheskogo-industrialno-tehnologicheskogo-profilej-10-11-klass.html
  • klass.bystrickaya.ru/51teoriya-k-regensdorfa-izuchenie-rukopisej-mertvogo-morya.html
  • report.bystrickaya.ru/hromosomnij-analiz-konkurs-nauchno-obrazovatelnih-proektov-energiya-budushego-2008.html
  • turn.bystrickaya.ru/politicheskaya-etika.html
  • lesson.bystrickaya.ru/pravila-blokirovki-schetov-ot-fns-rossii-osnovanie-dlya-vicheta-schet-faktura-posrednika-stranica-5.html
  • urok.bystrickaya.ru/poyasnitelnaya-zapiska-osnovnaya-obsheobrazovatelnaya-programma-nachalnogo-obshego-obrazovaniya-municipalnogo-obsheobrazovatelnogo-uchrezhdeniya-gimnazii-imeni-geroya-sovetskogo-soyuza-ivana-mihajlovicha-makarenkova-s.html
  • bystrickaya.ru/vnutrennij-sboj-shest-oshibok-vnutrennego-pr.html
  • lecture.bystrickaya.ru/aleksandr-solovev-bil-gostem-prazdnika-azerbajdzhancev-zhivushih-v-udmurtii.html
  • university.bystrickaya.ru/glava-dvenadcataya-vladimir-fajnberg.html
  • zadachi.bystrickaya.ru/tipografiya-mgu-novoe-staroe-predpriyatie.html
  • doklad.bystrickaya.ru/vazhnie-nastavleniya-po-bezopasnosti-ustrojstvo-radiopriemnoe-onkyo-pha-10-45-rukovodstvo-po-ekspluatacii.html
  • lesson.bystrickaya.ru/uchet-analiz-i-audit-proizvodstvennih-zapasov-na-primere-transportnogo-predpriyatiya.html
  • composition.bystrickaya.ru/otchet-o-proizvodstvennoj-praktike-v-ooo-romashka.html
  • ucheba.bystrickaya.ru/prilozhenie-2-rezultati-raboti-programmi-konvertirovanie-ishodnogo-teksta-programm-dlya-stankov-s-chpu-iz-odnoj.html
  • shkola.bystrickaya.ru/uran.html
  • thesis.bystrickaya.ru/post-reliz-nizhnevolzhskij-stomatologicheskij-forum.html
  • shpora.bystrickaya.ru/zakonodatelstva-rossijskoj-federacii-v-oblasti-obrazovaniya.html
  • holiday.bystrickaya.ru/metodicheskoe-posobie-po-profilnomu-obucheniyu-shkola-iskusstv-izdatelskij-dom-raduga-2011god-stranica-3.html
  • nauka.bystrickaya.ru/uchebno-metodicheskoe-obespechenie-disciplini-uchebno-metodicheskij-kompleks-disciplini-ftd-psihologiya-reklami-kod.html
  • bystrickaya.ru/zamorazhivanie-i-transportirovka-spermi.html
  • bystrickaya.ru/zhurnala-stranica-3.html
  • knowledge.bystrickaya.ru/obshestvennij-fond-mnenie.html
  • shpora.bystrickaya.ru/zakona-o-vnesenii-izmenenij-v-otdelnie-zakonodatelnie-akti-rossijskoj.html
  • tests.bystrickaya.ru/konglomeratnaya-forma-struktura-v-kulake-sozdanie-effektivnoj-organizacii.html
  • assessments.bystrickaya.ru/community-empowerment-network.html
  • testyi.bystrickaya.ru/7-zadaniya-dlya-samostoyatelnoj-raboti-studentov-uchebno-metodicheskij-kompleks-dlya-specialnosti-080801-prikladnaya.html
  • © bystrickaya.ru
    Мобильный рефератник - для мобильных людей.